DDpay钱包

本次讲座乐彬先生系统全面地介绍了可测试性设计（DFT）的根基概念和步骤论，，先从DFT的缘起（Motivation）起头介绍，，并具体说了然缺点建模（Fault Modeling），，而后诠氏缢可测试性（Testability）的内涵，，从而引出了提升可测试性的步骤 - DFT技术，，蕴含扫描（Scan），，ATPG，，内建自测试（BIST），，天堑扫描（Boundary Scan）。。。在扫描技术中，，又逐步诠氏缢扫描技术的演进，，蕴含压缩（Compression）、、
、Hierarchy Scan和Streaming Scan Network(SSN). 在BIST中又分析了MBIST、、
、repair及LBIST。。。最后又涵盖了3D DFT、、
、IP test、、
、In-system test和diagnosis等主题。。。

在技术分享之后，，出格分析了DFT技术的特殊性，，以及在流程中与各个环节的关系。。。也正由于DFT自体态成了基于产品定位从端到端的闭环治理，，必必要纳入项目治理的领域，，通过AI和车载MCU两种芯片利用案例，，分析它们在质量、、
、成本、、
、进度及风险之间若何衡量及优化，，以达到DFT流程的最优治理。。。最后也基于半导体大厂的流程运作方式，，给出了小我对草创公司进行DFT流程和团队建设的定见，，也对将来国内DFT的发展赐与了等待和瞻望。。。

在互换环节，，行业专业听众问询了诸多关于DFT技术的有关问题，，乐彬先生逐一作出了具体解答。。。杰出演讲，，耐心的解答得到听众们的一致好评和及赞赏。。。